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Coauteurs
- Hang Z. YuAssociate Professor of Materials Science and Engineering, Virginia TechAdresse e-mail validée de vt.edu
- Ziling WuPostdoctoral researcher, MITAdresse e-mail validée de mit.edu
- Daniel GauthierProfessor of Physics, The Ohio State UniversityAdresse e-mail validée de osu.edu
- Ting YangMassachusetts Institute of TechnologyAdresse e-mail validée de mit.edu
- Hunter RauchPenn StateAdresse e-mail validée de psu.edu
- Mackenzie E.J. PerryAdresse e-mail validée de vt.edu
- Rui ZhangAmazon.comAdresse e-mail validée de amazon.com
- George BarbastathisProfessor of Mechanical Engineering, Massachusetts Institute of TechnologyAdresse e-mail validée de mit.edu
- Hongshun ChenPostdoctoral scholar, Department of Mechanical Engineering, Northwestern UniversityAdresse e-mail validée de northwestern.edu
- Zhenyu (James) KongSmart Manufacturing, Industrial & Systems Engineering, Virginia TechAdresse e-mail validée de vt.edu
- Chase D. CoxMELD Manufacturing CorporationAdresse e-mail validée de MELDManufacturing.com
- Lee MyungjunSamsung ElectronicsAdresse e-mail validée de kla-tencor.com
- Christopher Bryant WilliamsL. S. Randolph Professor of Mechanical Engineering, Virginia TechAdresse e-mail validée de vt.edu
- Jungsang KimDuke UniversityAdresse e-mail validée de duke.edu
- Lei TianBoston University, UC Berkeley, MITAdresse e-mail validée de bu.edu
- Laura WallerUC BerkeleyAdresse e-mail validée de alum.mit.edu
- Aamod ShankerUniversity of Rochester, NYAdresse e-mail validée de berkeley.edu
- Zhengyun ZhangResearch Scientist, BioSystems & Micromechanics IRG, SMARTAdresse e-mail validée de smart.mit.edu
- Sonia MelleUniversidad Complutense de Madrid, Optics Department,Adresse e-mail validée de fis.ucm.es
- OSCAR GOMEZ CALDERONFacultad de Óptica y Optometría, Universidad Complutense de MadridAdresse e-mail validée de ucm.es