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Coauteurs
- Henning HeuerProf. Dr.-Ing., TU Dresden, Fraunhofer IKTS DresdenAdresse e-mail validée de ikts.fraunhofer.de
- Bernd KöhlerSenior Scientist, Matrial Diagnostics, Fraunhofer IKTSAdresse e-mail validée de ikts.fraunhofer.de
- Klaus-Juergen WolterProfessor für Verfahrenstechnologie der Elektronik, TU DresdenAdresse e-mail validée de tu-dresden.de
- Udo NetzelmannFraunhofer Institute for Nondestructive TestingAdresse e-mail validée de izfp.fraunhofer.de
- Gerd DobmannScience NDTAdresse e-mail validée de dozent.di-uni.de
- Martin OppermannTechnische Universität DresdenAdresse e-mail validée de zmp.et.tu-dresden.de
- Kopycinska Mueller, MalgorzataIKTS-MDAdresse e-mail validée de ikts-md.fraunhofer.de
- Issa HakimPh.DAdresse e-mail validée de purdue.edu
- Jürgen SchreiberFraunhofer-Institut IKTS-MDAdresse e-mail validée de ikts-extern.fraunhofer.de
- Leonard J. BondProfessor, Iowa State UniversityAdresse e-mail validée de iastate.edu
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Norbert G Meyendorf
Professor Materials Engineering, University of Dayton
Adresse e-mail validée de udayton.edu