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Coauteurs
- Byeng Dong YounSeoul National UniversityAdresse e-mail validée de snu.ac.kr
- Pingfeng WangUniversity of Illinois at Urbana-ChampaignAdresse e-mail validée de illinois.edu
- Ren-Jye YangFord Motor Company (Retired)Adresse e-mail validée de ntu.edu.tw
- Alaa OlleakAnsysAdresse e-mail validée de ansys.com
- Rong JingMaster in Industrial Engineering, University of Michigan-DearbornAdresse e-mail validée de umich.edu
- Chao HuAssociate Professor at University of ConnecticutAdresse e-mail validée de uconn.edu
- Hao PanUniversity of MichiganAdresse e-mail validée de umich.edu
- Byung Chang JungKorea Institute of Machinery and MaterialsAdresse e-mail validée de kimm.re.kr
- Modjtaba DahmardehResearch Fellow, Rutgers UniversityAdresse e-mail validée de rutgers.edu
- Chunting Chris MiDistinguished Professor, Electrical and Computer Engineering, San Diego State UniversityAdresse e-mail validée de ieee.org
- david gorsichU.S. Army and M.I.T.Adresse e-mail validée de mail.mil
- Xi ChenUniversity of Michigan-DearbornAdresse e-mail validée de umich.edu
- Cheol W. LeeUniversity of Michigan-DearbornAdresse e-mail validée de umich.edu
- Rui WangNorth Carolina State UniversityAdresse e-mail validée de ncsu.edu
- David A. LambGVSCAdresse e-mail validée de army.mil
- Zhenfei ZhanResearch Engineer, Ford Motor CompanyAdresse e-mail validée de ford.com
- Junxuan LiMicrosoftAdresse e-mail validée de microsoft.com
- Elnaz A TorkamaniPhD Student, RutgersAdresse e-mail validée de scarletmail.rutgers.edu
- Zhetao ChenPhD student of Industrial and Systems Engineering, Rutgers UniversityAdresse e-mail validée de scarletmail.rutgers.edu
- Lichuan RenRutgers UniversityAdresse e-mail validée de rutgers.edu