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Coauteurs
- Tomás PalaciosMITAdresse e-mail validée de mit.edu
- Yuhao ZhangCPES, Virginia TechAdresse e-mail validée de vt.edu
- Han Wui ThenIntel CorporationAdresse e-mail validée de intel.com
- Huili Grace XingProf. of ECE & MSE, Cornell UniversityAdresse e-mail validée de cornell.edu
- Debdeep JenaCornell UniversityAdresse e-mail validée de cornell.edu
- Alyosha MolnarProfessor of Electrical and Computer Engineering, Cornell UniversityAdresse e-mail validée de ece.cornell.edu
- Giuseppe IannacconeUniversity of Pisa, ItalyAdresse e-mail validée de unipi.it
- Michael PovolotskyiJacobs TechnologiesAdresse e-mail validée de jacobs.com
- Shang-Chun LuMassachusetts Institute of TechnologyAdresse e-mail validée de mit.edu
- Yuanchen ChuR&D engineer at Samsung TCAD LabAdresse e-mail validée de alumni.purdue.edu
- Hiroshi AMANO (天野 浩)Nagoya University (名古屋大学)Adresse e-mail validée de nuee.nagoya-u.ac.jp