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Coauteurs
- Markus KraftUniversity of Cambridge, Nanyang Technological UniversityAdresse e-mail validée de cam.ac.uk
- Y. S. Foo EddySchool of Electrical and Electronic Engineering, Nanyang Technological UniversityAdresse e-mail validée de ntu.edu.sg
- Aravind DevanandResearch ScholarAdresse e-mail validée de u.nus.edu
- Nenad KrdzavacTechnische Informationsbibliothek (TIB), Hannover, DeutschlandAdresse e-mail validée de tib.eu
- Rémy RIGO-MARIANIUniv. Grenoble Alpes, CNRS, Grenoble INP, G2ElabAdresse e-mail validée de g2elab.grenoble-inp.fr
- H B GOOIProfessor of Electrical & Electronic EngineeringAdresse e-mail validée de ntu.edu.sg
- Feroz FaraziResearch Associate, University of CambridgeAdresse e-mail validée de cam.ac.uk