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Coauteurs
- Jiyoung KimProfessor of Materials Science and Engineering, University of Texas at DallasAdresse e-mail validée de utdallas.edu
- Lanxia ChengStaff Engineer_EMD ElectronicsAdresse e-mail validée de emdgroup.com
- Si Joon KimAssociate Professor, Kangwon National UniversityAdresse e-mail validée de kangwon.ac.kr
- Su Min HwangThe University of Texas at DallasAdresse e-mail validée de utdallas.edu
- Harrison Sejoon KimIntel ATTDAdresse e-mail validée de intel.com
- Chadwin D. YoungUniversity of Texas at DallasAdresse e-mail validée de utdallas.edu
- Jaebeom LeeResearch Assistant, Materials Science and Engineering, The University of Texas at DallasAdresse e-mail validée de utdallas.edu
- Hui ZhuIntel