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Coauteurs
- Mark J. KushnerUniversity of MichiganAdresse e-mail validée de umich.edu
- Vladimir VolynetsPrincipal engineer, Samsung ElectronicsAdresse e-mail validée de samsung.com
- Jonathan TennysonUniversity College LondonAdresse e-mail validée de ucl.ac.uk
- Jon Tomas GudmundssonUniversity of IcelandAdresse e-mail validée de hi.is
- Chad HuardUniversity of MichiganAdresse e-mail validée de umich.edu
- Yuri BarsukovPrinceton Plasma Physics LabAdresse e-mail validée de pppl.gov
- Kyuhee HanSamsung Electronics, Seoul National UniversityAdresse e-mail validée de samsung.com
- Mohammed A. ZidanChief Architect, MemryX Inc.Adresse e-mail validée de memryx.com
- 陈冰 Bing ChenZhejiang UniversityAdresse e-mail validée de zju.edu.cn
- Jihang LeeLam Research; University of Michigan-Ann ArborAdresse e-mail validée de umich.edu
- Wei D. LuEECS Professor, University of Michigan, IEEE Fellow. co-founder MemryX Inc, Crossbar Inc.Adresse e-mail validée de umich.edu
- YeonJoo JeongKorea Institute of Science and Technology (KIST)Adresse e-mail validée de kist.re.kr
- Paras R. PatelUniversity of MichiganAdresse e-mail validée de umich.edu
- John SeymourUniversity of Texas Health Science CenterAdresse e-mail validée de uth.tmc.edu
- Tim BrunsUniversity of MichiganAdresse e-mail validée de umich.edu
- Cynthia ChestekUniversity of MichiganAdresse e-mail validée de umich.edu
- Euisik YoonUniversity of MichiganAdresse e-mail validée de umich.edu
- Dongxiao YanUniversity of MichiganAdresse e-mail validée de umich.edu
- Ahmad A. JimanDepartment of Electrical and Computer Engineering, King Abdulaziz UniversityAdresse e-mail validée de kau.edu.sa
- Elissa WelleUniversity of Michigan, Ann ArborAdresse e-mail validée de umich.edu