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Coauteurs
- Volkmar DierolfLehigh UniversityAdresse e-mail validée de lehigh.edu
- Jonathan D. PoplawskyOak Ridge National LaboratoryAdresse e-mail validée de ornl.gov
- Atsushi NishikawaALLOS semiconductors GmbHAdresse e-mail validée de allos-semiconductors.com
- Dolf TimmermanOsaka UniversityAdresse e-mail validée de mat.eng.osaka-u.ac.jp
- Joosung KimSamsung Electronics, Samsung Advanced Institute of Technology (SAIT)Adresse e-mail validée de samsung.com
- Eduardo AlvesFull Researcher, DECN, Instituto Superior Técnico, Universidade de LisboaAdresse e-mail validée de tecnico.ulisboa.pt
- T. GregorkiewiczProfessor of Optoelectronic Materials, University of AmsterdamAdresse e-mail validée de uva.nl
- Antonio CaprettiSurflyAdresse e-mail validée de uva.nl
- Hyun S. KumYonsei UniversityAdresse e-mail validée de yonsei.ac.kr
- Donghwa LeePohang University of Science and Technology (POSTECH)Adresse e-mail validée de postech.ac.kr
- Wei Guo (郭炜)Western DigitalAdresse e-mail validée de wdc.com
- Youngsoo ParkSoulbrain