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Coauteurs
- Sriram KrishnamoorthyUniversity of California, Santa BarbaraAdresse e-mail validée de ucsb.edu
- Zhanbo XiaPost Doctoral Scholar, ECE, The Ohio State UniversityAdresse e-mail validée de osu.edu
- Umesh MishraUCSBAdresse e-mail validée de ece.ucsb.edu
- Digbijoy NathAssociate Professor at Indian Institute of ScienceAdresse e-mail validée de iisc.ac.in
- Yuewei ZhangUCSBAdresse e-mail validée de ucsb.edu
- Jim SpeckProfessor of Materials, UCSBAdresse e-mail validée de ucsb.edu
- Fatih AkyolYıldız Teknik ÜniversitesiAdresse e-mail validée de yildiz.edu.tr
- Chandan JoishiPost Doctoral Researcher, ECE, The Ohio State UniversityAdresse e-mail validée de osu.edu
- Sanyam BajajIntel CorporationAdresse e-mail validée de intel.com
- PIL SUNG PARKTechnology Development Center, Samsung ElectronicsAdresse e-mail validée de osu.edu
- Steven RingelThe Ohio State UniversityAdresse e-mail validée de osu.edu
- Aaron ArehartAssistant Research Professor of Electrical and Computer Engineering, The Ohio State UniversityAdresse e-mail validée de osu.edu
- Steven DenBaarsProfessor of Materials, University of California Santa BarbaraAdresse e-mail validée de engineering.ucsb.edu
- Stacia KellerUniversity of California Santa BarbaraAdresse e-mail validée de ece.ucsb.edu
- Jinwoo HwangAssociate Professor, Materials Science and Engineering, Ohio State UniversityAdresse e-mail validée de osu.edu
- Nidhin Kurian KalarickalAssistant Professor, Electrical Computer and Energy Engineering, Arizona State UniversityAdresse e-mail validée de asu.edu
- Wu Lu, ProfessorThe Ohio State UniversityAdresse e-mail validée de osu.edu
- Joe McGloneResearch Scientist, ECE and IMR at Ohio State UniversityAdresse e-mail validée de osu.edu
- Shahadat Hasan SohelIntelAdresse e-mail validée de intel.com
- Roberto C. MyersProfessor of Materials Science, Electrical Engineering, and Physics, The Ohio State UniversityAdresse e-mail validée de osu.edu
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Siddharth Rajan
Electrical and Computer Engineering, Ohio State University
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