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Coauteurs
- Douglas A ReynoldsSenior Member of Technical Staff, MIT Lincoln LaboratoryAdresse e-mail validée de ll.mit.edu
- Douglas E. SturimMIT Lincoln LaboratoryAdresse e-mail validée de ll.mit.edu
- Joseph P. CampbellLaboratory Fellow, MIT Lincoln LaboratoryAdresse e-mail validée de ieee.org
- Fred RichardsonMIT Lincoln LaboratoryAdresse e-mail validée de ll.mit.edu
- Khaled AssalehProvost and Professor of Electrical Engineering, Ajman UniversityAdresse e-mail validée de ajman.ac.ae
- Charlie K. DagliMIT Lincoln LaboratoryAdresse e-mail validée de ll.mit.edu
- Najim DehakAssociate Professor at ECE department, Johns Hopkins University.Adresse e-mail validée de jhu.edu
- Youngjune GwonExecutive Vice President, Samsung SDSAdresse e-mail validée de samsung.com
- Thomas QuatieriMITAdresse e-mail validée de ll.mit.edu
- Kari TorkkolaSenior Principal Research Scientist, Amazon.comAdresse e-mail validée de amazon.com
- Tim LeekMIT Lincoln LaboratoryAdresse e-mail validée de ll.mit.edu
- Hadrien GLAUDEAmazonAdresse e-mail validée de amazon.com
- Eunah ChoAmazonAdresse e-mail validée de amazon.com
- Cyprien de LichyAmazonAdresse e-mail validée de amazon.com
- Vincent WanGoogleAdresse e-mail validée de google.com
- Varun KumarAWS AI LabsAdresse e-mail validée de umd.edu
- lin liSenior StaffAdresse e-mail validée de ll.mit.edu
- Ian S. Boardman, PhDBoston UniversityAdresse e-mail validée de alum.bu.edu
- Jiri NavratilIBM ResearchAdresse e-mail validée de us.ibm.com
- Jean-Francois BonastreDirecteur de Recherche @ Inria Defense&Security and Professor, LIA @ Avignon UniversityAdresse e-mail validée de univ-avignon.fr