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Coautori
- Stefano MaciDipartimento di Ingegneria dell'Informazione e Scienze Matematiche, University of SienaEmail verificata su dii.unisi.it
- Nader EnghetaH. Nedwill Ramsey Professor, University of PennsylvaniaEmail verificata su seas.upenn.edu
- Enrica MartiniUniversity of SienaEmail verificata su dii.unisi.it
- matteo albaniUniversity of SienaEmail verificata su unisi.it
- Yue LiAssociate Professor, Department of Electronic Engineering, Tsinghua University, Beijing, ChinaEmail verificata su seas.upenn.edu
- Xingchen YeIndiana University BloomingtonEmail verificata su indiana.edu
- Christopher B. MurrayProfessor of Chemistry and Materials Science and EngineeringEmail verificata su sas.upenn.edu
- Iñigo LiberalUniversidad Publica de NavarraEmail verificata su unavarra.es
- Valerio VignoliProfessore di Elettronica, Università di SienaEmail verificata su unisi.it
- Tommaso AddabboAssociate Professor, University of SienaEmail verificata su dii.unisi.it
- Marco MugnainiAssociate Professor University of SienaEmail verificata su dii.unisi.it
- Raj MittraProfessor, Penn State UniversityEmail verificata su ieee.org
- Giuseppe VecchiPolitecnico di TorinoEmail verificata su polito.it
- Massimiliano CasalettiAssociate Professor - Sorbonne Universités UPMC, ParisEmail verificata su upmc.fr
- Filippo CapolinoUniversity of California, IrvineEmail verificata su uci.edu
- Alessandro GarufoTNO Defense Security and SafetyEmail verificata su tno.nl
- Mário SilveirinhaProfessor of Electrical Engineering, University of Lisbon, PortugalEmail verificata su tecnico.ulisboa.pt
- Danilo ErricoloProfessor, University of Illinois Chicago; Chair, IEEE AP-S Meetings CommitteeEmail verificata su uic.edu
- Artur DavoyanUniversity of California, Los AngelesEmail verificata su seas.ucla.edu