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Coauteurs
- Stefano MaciDipartimento di Ingegneria dell'Informazione e Scienze Matematiche, University of SienaAdresse e-mail validée de dii.unisi.it
- Nader EnghetaH. Nedwill Ramsey Professor, University of PennsylvaniaAdresse e-mail validée de seas.upenn.edu
- Enrica MartiniUniversity of SienaAdresse e-mail validée de dii.unisi.it
- matteo albaniUniversity of SienaAdresse e-mail validée de unisi.it
- Yue LiAssociate Professor, Department of Electronic Engineering, Tsinghua University, Beijing, ChinaAdresse e-mail validée de seas.upenn.edu
- Xingchen YeIndiana University BloomingtonAdresse e-mail validée de indiana.edu
- Christopher B. MurrayProfessor of Chemistry and Materials Science and EngineeringAdresse e-mail validée de sas.upenn.edu
- Iñigo LiberalUniversidad Publica de NavarraAdresse e-mail validée de unavarra.es
- Valerio VignoliProfessore di Elettronica, Università di SienaAdresse e-mail validée de unisi.it
- Tommaso AddabboAssociate Professor, University of SienaAdresse e-mail validée de dii.unisi.it
- Marco MugnainiAssociate Professor University of SienaAdresse e-mail validée de dii.unisi.it
- Raj MittraProfessor, Penn State UniversityAdresse e-mail validée de ieee.org
- Giuseppe VecchiPolitecnico di TorinoAdresse e-mail validée de polito.it
- Massimiliano CasalettiAssociate Professor - Sorbonne Universités UPMC, ParisAdresse e-mail validée de upmc.fr
- Filippo CapolinoUniversity of California, IrvineAdresse e-mail validée de uci.edu
- Alessandro GarufoTNO Defense Security and SafetyAdresse e-mail validée de tno.nl
- Mário SilveirinhaProfessor of Electrical Engineering, University of Lisbon, PortugalAdresse e-mail validée de tecnico.ulisboa.pt
- Danilo ErricoloProfessor, University of Illinois Chicago; Chair, IEEE AP-S Meetings CommitteeAdresse e-mail validée de uic.edu
- Artur DavoyanUniversity of California, Los AngelesAdresse e-mail validée de seas.ucla.edu