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Coauteurs
- Ali H SayedDean of Engineering, EPFL, SwitzerlandAdresse e-mail validée de epfl.ch
- Kun YuanCenter for Machine Learning Research, Peking UniversityAdresse e-mail validée de pku.edu.cn
- Bicheng YingGoogleAdresse e-mail validée de google.com
- Ernest K. RyuSeoul National UniversityAdresse e-mail validée de snu.ac.kr
- Ming Yan (严明)Associate Professor, CUHK-ShenzhenAdresse e-mail validée de cuhk.edu.cn
- Xinmeng HuangPhD, University of PennsylvaniaAdresse e-mail validée de sas.upenn.edu
- César A. UribeRice UniversityAdresse e-mail validée de rice.edu
- Qi LyuMaster of Science, Michigan State UniversityAdresse e-mail validée de msu.edu
- Lucas CassanoApplied scientist, AmazonAdresse e-mail validée de amazon.com
- João Yoshiyuki IshiharaAssociate Professor of Electrical Engeneering, Universidade de BrasíliaAdresse e-mail validée de ene.unb.br
- Luyao GuoSoutheast UniversityAdresse e-mail validée de seu.edu.cn
- Laurent CondatSenior Research Scientist, King Abdullah University of Science and Technology (KAUST), Saudi ArabiaAdresse e-mail validée de kaust.edu.sa