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Coauteurs
- Kwai Man LukProfessor of Electronic Engineering, City University of Hong KongAdresse e-mail validée de cityu.edu.hk
- Steve Hang WongCity University of Hong KongAdresse e-mail validée de cityu.edu.hk
- Chi Hou ChanChair Professor of Electronic Engineering, City University of Hong KongAdresse e-mail validée de cityu.edu.hk
- Quan XueCity University of Hong KongAdresse e-mail validée de cityu.edu.hk
- Xiu Yin ZHANG, PhD, IEEE FellowProfessor,South China University of TechnologyAdresse e-mail validée de scut.edu.cn
- Kai Fong LeeDean Emeritus, School of Engineering, University of MississippiAdresse e-mail validée de olemiss.edu
- Corbett RowellResearch Director, Rohde & SchwarzAdresse e-mail validée de rohde-schwarz.com
- MAK, Chi Lun AlanLSCMAdresse e-mail validée de ieee.org
- Steven YangStandards and Calibration LaboratoryAdresse e-mail validée de itc.gov.hk
- Kwok W. LeungCity University of Hong KongAdresse e-mail validée de cityu.edu.hk
- Samuel KoInnovation and Technology CommissionAdresse e-mail validée de itc.gov.hk