Obtenir mon propre profil
Citée par
Toutes | Depuis 2019 | |
---|---|---|
Citations | 598 | 408 |
indice h | 14 | 11 |
indice i10 | 19 | 13 |
Accès public
Tout afficher5 articles
2 articles
disponibles
non disponibles
Sur la base des exigences liées au financement
Coauteurs
- Yasufumi FujiwaraOsaka UniversityAdresse e-mail validée de mat.eng.osaka-u.ac.jp
- Volkmar DierolfLehigh UniversityAdresse e-mail validée de lehigh.edu
- Dolf TimmermanOsaka UniversityAdresse e-mail validée de mat.eng.osaka-u.ac.jp
- T. GregorkiewiczProfessor of Optoelectronic Materials, University of AmsterdamAdresse e-mail validée de uva.nl
- Jonathan D. PoplawskyOak Ridge National LaboratoryAdresse e-mail validée de ornl.gov
- Donghwa LeePohang University of Science and Technology (POSTECH)Adresse e-mail validée de postech.ac.kr
- Ruoqiao WeiGoogleAdresse e-mail validée de lehigh.edu
- Dong-gun LeeSamsung Electronics Co., Ltd.Adresse e-mail validée de samsung.com
- Eduardo AlvesFull Researcher, DECN, Instituto Superior Técnico, Universidade de LisboaAdresse e-mail validée de tecnico.ulisboa.pt
- Atsushi NishikawaALLOS semiconductors GmbHAdresse e-mail validée de allos-semiconductors.com