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Coauteurs
- Dipankar RaychaudhuriProfessor ECE & Director, WINLAB, Rutgers UniversityAdresse e-mail validée de winlab.rutgers.edu
- Ivan SeskarChief Technologist & Director, IT, WINLAB, Departmant of ECE, Rutgers UniversityAdresse e-mail validée de winlab.rutgers.edu
- Sudipta MahapatraAssociate Professor, E & ECE, IIT KharagpurAdresse e-mail validée de ece.iitkgp.ac.in
- Cheruvu Siva KumarProfessor of Mechanical Engineering, IIT KharagpurAdresse e-mail validée de mech.iitkgp.ac.in
- Francesco BronzinoAssociate Professor, École Normale Supérieure de LyonAdresse e-mail validée de ens-lyon.fr
- Shalini ChoudhuryWINLAB, Rutgers UniversityAdresse e-mail validée de winlab.rutgers.edu
- Gil ZussmanColumbia UniversityAdresse e-mail validée de ee.columbia.edu
- Tingjun ChenAssistant Professor of Electrical and Computer Engineering, Duke UniversityAdresse e-mail validée de duke.edu
- Michael ShermanEngineering Researcher at WINLAB, Rutgers UniversityAdresse e-mail validée de winlab.rutgers.edu
- Dan KilperTrinity College DublinAdresse e-mail validée de tcd.ie
- Craig GuttermanPh.D. Candidate, Columbia UniversityAdresse e-mail validée de columbia.edu
- Panagiotis SkrimponisSr. Hardware Engineer, Samsung Research America, Inc.Adresse e-mail validée de samsung.com
- Zoran KosticProfessor of Electrical Engineering, Columbia UniversityAdresse e-mail validée de columbia.edu
- Prasad NetalkarWINLAB, Rutgers UniversityAdresse e-mail validée de winlab.rutgers.edu
- Saurabh DeochakeStaff Cloud Infrastructure Engineer at SentinelOneAdresse e-mail validée de sentinelone.com
- Gala YadgarComputer Science, Technion- Israel Institute of TechnologyAdresse e-mail validée de cs.technion.ac.il
- Emina SoljaninRutgers UniversityAdresse e-mail validée de rutgers.edu
- siba samalSamsung IndiaAdresse e-mail validée de samsung.com
- Yanyong ZhangUniversity of Science and Technology of China ; Rutgers University (Adjunct Visiting Professor)Adresse e-mail validée de ustc.edu.cn
- Wuyang ZhangMetaAdresse e-mail validée de meta.com