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Coauteurs
- Andreas F. MolischProfessor of Electrical Engineering, University of Southern CaliforniaAdresse e-mail validée de usc.edu
- Seun SangodoyinAssistant Professor, ECE, Georgia Institute of TechnologyAdresse e-mail validée de gatech.edu
- Sooyoung HurSamsung Electronics, Principal EngineerAdresse e-mail validée de samsung.com
- Vinod KristemAppleAdresse e-mail validée de usc.edu
- Jianzhong (Charlie) ZhangSamsungAdresse e-mail validée de samsung.com
- Olivier RenaudinUniversitat Autònoma de BarcelonaAdresse e-mail validée de uab.cat
- Reiner S. ThomäTU IlmenauAdresse e-mail validée de tu-ilmenau.de
- Christian SchneiderGroup Leader and Senior Researcher, Technische Universität IlmenauAdresse e-mail validée de tu-ilmenau.de
- Thomas ChoiUniversity of Southern CaliforniaAdresse e-mail validée de usc.edu
- Dimitris PsychoudakisPhazr/JMA WirelessAdresse e-mail validée de jmawireless.com
- Aki KarttunenAdresse e-mail validée de tuni.fi
- Utku DemirPhD, Northeastern UniversityAdresse e-mail validée de northeastern.edu
- Usman Tahir VirkSenior R&D Engineer at Keysight TechnologiesAdresse e-mail validée de keysight.com
- Pan TangBeijing University of Posts and TelecommunicationsAdresse e-mail validée de bupt.edu.cn
- Zheda LiAmazon Lab126Adresse e-mail validée de usc.edu
- Zihang ChengPhD student in EE, USCAdresse e-mail validée de usc.edu
- Hao FengIntel LabsAdresse e-mail validée de intel.com
- Gary XuSamsung Research AmericaAdresse e-mail validée de samsung.com
- Jorge Gomez PoncePostdoctoral Fellow, University of Southern California, Escuela Superior Politécnica del LitoralAdresse e-mail validée de usc.edu
- Ming ZhengGoogle, Amazon Lab126, Nokia, Birmingham University,Adresse e-mail validée de google.com