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- Tianwai BoBeijing Institute of Technology; KAIST; CUHKAdresse e-mail validée de bit.edu.cn
- Vuong MaiUniversity of Bradford, KAISTAdresse e-mail validée de bradford.ac.uk
- Sunghyun BaeKangwon National UniversityAdresse e-mail validée de kangwon.ac.kr
- Peter WinzerAdresse e-mail validée de ieee.org
- PAUL K. J. PARKSamsung ElectronicsAdresse e-mail validée de samsung.com
- Pooi Yuen KAMNational University of SingaporeAdresse e-mail validée de nus.edu.sg
- Changyuan YuProfessor of EIE, Hong Kong Polytechnic University; National University of Singapore; Optica FellowAdresse e-mail validée de polyu.edu.hk
- Ho-Chul JiSamsung ElectronicsAdresse e-mail validée de samsung.com
- Jingjing ZhouNational University of SingaporeAdresse e-mail validée de u.nus.edu
- Masatoshi SuzukiKDDIAdresse e-mail validée de kddi-research.jp
- Jichai JeongKorea UniversityAdresse e-mail validée de korea.ac.kr
- Zonglong HeChalmers University of TechnologyAdresse e-mail validée de chalmers.se
- Jun Haeng LeeSamsung Advanced Institute of TechnologyAdresse e-mail validée de samsung.com
- Chul Han KimUniversity of SeoulAdresse e-mail validée de uos.ac.kr
- R. M. JopsonBell LaboratoriesAdresse e-mail validée de nokia.com
- Shota IshimuraKDDI Research, Inc.Adresse e-mail validée de kddi-research.jp
- Qikai HuDepartment of Electrical and Computer Engineering, National University of SingaporeAdresse e-mail validée de nus.edu.sg
- Christopher DoerrAcacia CommunicationsAdresse e-mail validée de acacia-inc.com
- Chuanbowen SunUniversity of MelbourneAdresse e-mail validée de student.unimelb.edu.au
- Sethumadhavan ChandrasekharRetired Nokia Bell LabsAdresse e-mail validée de ieee.org
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Hoon Kim
School of Electrical Engineering, KAIST
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