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Coauteurs
- Shabbir AhmedProfessor of Industrial & Systems Engineering, Georgia Institute of TechnologyAdresse e-mail validée de isye.gatech.edu
- Yanfeng OuyangUniversity of IllinoisAdresse e-mail validée de illinois.edu
- Mohit SinghAssociate Professor, Georgia Institute of TechnologyAdresse e-mail validée de gatech.edu
- Xinwei DengProfessor of Statistics, Virginia TechAdresse e-mail validée de vt.edu
- James LuedtkeProfessor, Ind. & Sys. Engr and Wisconsin Institute for Discovery, UW-MadisonAdresse e-mail validée de wisc.edu
- Yongjia SongClemson UniversityAdresse e-mail validée de clemson.edu
- Subhash C. SarinPaul T. Norton Endowed Professor, Virginia TechAdresse e-mail validée de vt.edu
- Xiqun (Michael) ChenCollege of Civil Engineering and Architecture, Zhejiang University, Hangzhou, ChinaAdresse e-mail validée de zju.edu.cn
- Zhi ChenCUHK Business School, The Chinese University of Hong Kong.Adresse e-mail validée de cuhk.edu.hk
- Yun BaiRutgers, New Jersey State UniversityAdresse e-mail validée de illinois.edu
- Ruiwei JiangAssistant Professor, University of MichiganAdresse e-mail validée de umich.edu
- S.C. WongThe University of Hong KongAdresse e-mail validée de hku.hk
- Zhenyu (James) KongSmart Manufacturing, Industrial & Systems Engineering, Virginia TechAdresse e-mail validée de vt.edu
- Bo ShenAssistant Professor, New Jersey Institute of TechnologyAdresse e-mail validée de njit.edu
- Wenjing LouW. C. English Endowed Professor, IEEE Fellow, Virginia Tech, USAAdresse e-mail validée de vt.edu
- Thomas HouBradley Distinguished Professor, IEEE Fellow, Virginia Tech, USAAdresse e-mail validée de vt.edu
- Wenwen ZhangAssociate Professor at Rutgers UniversityAdresse e-mail validée de scarletmail.rutgers.edu
- Marcia FampaUniversidade Federal do Rio de JaneiroAdresse e-mail validée de cos.ufrj.br
- Feng QiuArgonne National LaboratoryAdresse e-mail validée de anl.gov
- Jon LeeG. Lawton and Louise G. Johnson Professor of Engineering, University of MichiganAdresse e-mail validée de umich.edu
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