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Coauteurs
- Maysam GhovanlooSilicon Creations Inc.Adresse e-mail validée de ieee.org
- Gyu-Hyeong ChoProfessor of Electrical Engineering, KAISTAdresse e-mail validée de kaist.ac.kr
- Yong-Joon JeonQualcomm Technologies, Inc.Adresse e-mail validée de kaist.ac.kr
- Hangue ParkAssistant Professor, Sungkyunkwan UniversityAdresse e-mail validée de skku.edu
- Woojoong Jungkorea universityAdresse e-mail validée de korea.ac.kr
- Tayfun GokmenPrinceton University, IBM T. J. Watson Research CenterAdresse e-mail validée de us.ibm.com
- Se-Un Shin포항공과대학교 전자전기공학과 교수Adresse e-mail validée de postech.ac.kr
- Wen LiMichigan State UniversityAdresse e-mail validée de egr.msu.edu
- Ki Yong KwonHardware Engineer, PlexonAdresse e-mail validée de plexon.com
- Seyoung KimPOSTECHAdresse e-mail validée de postech.ac.kr
- Mehdi KianiAssociate Professor, Pennsylvania State UniversityAdresse e-mail validée de psu.edu
- Seungchul JungPrincipal Researcher, Samsung Advanced Institute of Technology (SAIT)Adresse e-mail validée de samsung.com
- Jinyong JeonKAISTAdresse e-mail validée de kaist.ac.kr
- Han-Sol LeeKorea University, School of Electrical Engineering, Ph.D. candidateAdresse e-mail validée de korea.ac.kr
- Kyeongho Eom (엄경호)Korea UniversityAdresse e-mail validée de korea.ac.kr
- Taehwang KongSamsung Advanced Institute of TechnologyAdresse e-mail validée de samsung.com
- Youngmin KimSchool of Electronic and Electrical Engineering, Hongik University, Seoul, KoreaAdresse e-mail validée de hongik.ac.kr
- Hyun-Su LeeStudent, School of Electrical Engineering, Korea university, Seoul, South Korea.Adresse e-mail validée de korea.ac.kr
- Myunghee LeeUNISTAdresse e-mail validée de unist.ac.kr
- Wooram LeeAssociate Professor, Penn State UniversityAdresse e-mail validée de psu.edu
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Hyung-Min Lee
Associate Professor, Korea University
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