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Coauteurs
- Jianlin LiuProfessor of Electrical and Computer Engineering, University of California, RiversideAdresse e-mail validée de ece.ucr.edu
- Sunayna Binte BasharPhD, EE, UC RIversideAdresse e-mail validée de intel.com
- Muhammad MorshedPhD, Electrical Engineering, U C RiversideAdresse e-mail validée de ucr.edu
- Wenhao ShiUniversity of California, RiversideAdresse e-mail validée de hust.edu.cn
- Hao TianUniversity of California, RiversideAdresse e-mail validée de ucr.edu
- Zhongguang XuMicron, UC Riverside, institute of microelectronics, CASAdresse e-mail validée de ucr.edu
- Renjing ZhengResearch assistant, UC RiversideAdresse e-mail validée de ucr.edu
- Alireza KhanakiIntel CorporationAdresse e-mail validée de intel.com
- Bishwajit DebnathIntel Corporation; PhD, Electrical Engineering, University of California, RiversideAdresse e-mail validée de intel.com
- Roger K. LakeUniversity of California RiversideAdresse e-mail validée de ece.ucr.edu
- Itkis MEAdjunct Professor, UC RiversideAdresse e-mail validée de engr.ucr.edu
- Guanghui LiUniversity of California, RiversideAdresse e-mail validée de ucr.edu
- Robert C. HaddonUniversity of California RiversideAdresse e-mail validée de email.ucr.edu
- Jian-Guo ZhengDirector of Facilities, Irvine Materials Research Institute, University of California IrvineAdresse e-mail validée de uci.edu
- Zheng ZuoUniversity of California, RiversideAdresse e-mail validée de ucr.edu
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Mohammad Suja
PhD, Electrical Engineering, University of California Riverside
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