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Coauteurs
- Ji Tae KimAssociate professor, Department of Mechanical Engineering, The University of Hong KongAdresse e-mail validée de hku.hk
- Jaeyeon PyoKorea Electrotechnology Research InstituteAdresse e-mail validée de keri.re.kr
- Giorgio MargaritondoProfessor Emeritus EPFLAdresse e-mail validée de epfl.ch
- Sanghyeon LeeYonsei UniversityAdresse e-mail validée de yonsei.ac.kr
- Jung Hyun KIMKorea Electrotechnology Research InstituteAdresse e-mail validée de keri.re.kr
- Muhammad WajahatKarlsruhe Institute of TechnologyAdresse e-mail validée de kit.edu
- Sunshin JungKorea Electrotechnology Research Institute, University of Science and TechnologyAdresse e-mail validée de keri.re.kr
- Jongcheon BaeKorea Electrotechnology Research Institute (한국전기연구원)Adresse e-mail validée de keri.re.kr
- Jaemock YiSamsung ElectronicsAdresse e-mail validée de samsung.com
- Ho Hyung SimKorea Electrotechnology Research InstituteAdresse e-mail validée de keri.re.kr
- Amela GrosoPhysicist in charge of safety, Ecole Polytechnique Fédérale de LausanneAdresse e-mail validée de epfl.ch