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- Eli M. EspinozaLockheed MartinAdresse e-mail validée de lmco.com
- John ClarkUniversity of California, RiversideAdresse e-mail validée de ucr.edu
- Duoduo BaoUniversity of California, RiversideAdresse e-mail validée de ucr.edu
- Srigokul UpadhyayulaUniversity of California, BerkeleyAdresse e-mail validée de berkeley.edu
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- Mihri OzkanUniversity of CaliforniaAdresse e-mail validée de ece.ucr.edu
- Cengiz OzkanProfessor of Mechanical EngineeringAdresse e-mail validée de engr.ucr.edu
- Gregory BeranDepartment of Chemistry, University of California at RiversideAdresse e-mail validée de ucr.edu
- Maciej KrzeszewskiAdresse e-mail validée de icho.edu.pl
- Ming Lee TangUniversity of Utah, Department of ChemistryAdresse e-mail validée de utah.edu
- Quina, FrankInstituto de Quimica, USPAdresse e-mail validée de usp.br
- Wei Xia, Ph.D.Samsung Austin Semiconductor; University of Rochester; Chinese Academy of Sciences;Adresse e-mail validée de samsung.com
- Jaclyn LockAdresse e-mail validée de husky.neu.edu
- Huinan H. LiuUniversity of California at RiversideAdresse e-mail validée de engr.ucr.edu
- Denis JacqueminProf. University of NantesAdresse e-mail validée de univ-nantes.fr
- Roger K. LakeUniversity of California RiversideAdresse e-mail validée de ece.ucr.edu