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Coauteurs
sebastien fregoneseCR CNRS, Université de BordeauxAdresse e-mail validée de ims-bordeaux.fr
Anjan ChakravortyAssociate Professor of Electrical Engineering, IIT MadrasAdresse e-mail validée de ee.iitm.ac.in
Chhandak MukherjeeChargé de Rechereche CNRS, IMS Laboratory, University of Bordeaux, FranceAdresse e-mail validée de ims-bordeaux.fr
Hassene MnifENET'Com/Université de SfaxAdresse e-mail validée de enetcom.usf.tn
Pascal ChevalierSTMicroelectronicsAdresse e-mail validée de st.com
AMIT KUMAR SAHOOSMTS Device Modeling & Characterization, DTE DEVICE MODELING & CMC LAB, GLOBALFOUNDRIESAdresse e-mail validée de globalfoundries.com
Henri HappyIEMN - University of LilleAdresse e-mail validée de univ-lille.fr
Mario WeißIntelAdresse e-mail validée de intel.com
Mounaix patrickDR CNRS ; university of bordeauxAdresse e-mail validée de ims-bordeaux.fr
Nicolas VENTROUXTHALES RESEARCH & TECHNOLOGYAdresse e-mail validée de thalesgroup.com
montassar najariEnseignant-chercheur en électronique, ISLAIB - Université de Jendouba - Tunisie