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Coauteurs
- Changhwan ShinProfessor at Korea UniversityAdresse e-mail validée de korea.ac.kr
- Jung-Dong ParkProfessor at Dongguk University, SeoulAdresse e-mail validée de dongguk.edu
- Van-Son TrinhSenior Engineer at NewratekAdresse e-mail validée de newratek.com
- Van-Viet NguyenSynopsys VietnamAdresse e-mail validée de dongguk.edu
- Hyunjae LeeUniversity of WaterlooAdresse e-mail validée de uwaterloo.ca
- Jin-Hong ParkSchool of Electrical and Computer Engineering, Sungkyunkwan University (SKKU)Adresse e-mail validée de skku.edu
- Jeong-Kyu KimStanford UniversityAdresse e-mail validée de stanford.edu
- Kim, Gwang-SikSamsung ElectronicsAdresse e-mail validée de korea.ac.kr
- Byung Jin ChoKAISTAdresse e-mail validée de kaist.edu
- Krishna SaraswatProfessor of Electrical Engineering, Stanford UniversityAdresse e-mail validée de stanford.edu
- In Jun ParkIndiana University Purdue University, Indianapolis (IUPUI)Adresse e-mail validée de iu.edu
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