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Coauteurs
- Jaehyouk ChoiAssociate Professor of Seoul National UniversityAdresse e-mail validée de snu.ac.kr
- Heein YoonQualcomm, inc.Adresse e-mail validée de unist.ac.kr
- Younghyun LimAssistant Professor, Kyung Hee University, KoreaAdresse e-mail validée de khu.ac.kr
- Yongsun Lee (이용선)Memory division, Samsung ElectronicsAdresse e-mail validée de samsung.com
- Hangi ParkIntegrated Circuits and Systems Lab (ICSL), KAISTAdresse e-mail validée de kaist.ac.kr
- Seyeon YooQualcommAdresse e-mail validée de qti.qualcomm.com
- Yongwoo JoElectrical Engineering, KAISTAdresse e-mail validée de kaist.ac.kr
- Taeho SeongQualcomm Inc., San diego, USAAdresse e-mail validée de unist.ac.kr
- Jooeun BangKAISTAdresse e-mail validée de kaist.ac.kr
- Suneui ParkKorea Advanced Institute of Science and TechnologyAdresse e-mail validée de kaist.ac.kr
- Yuhwan ShinKorea Advanced Institute of Science and TechnologyAdresse e-mail validée de kaist.ac.kr
- Chanwoong HwangKorea Advanced Institute of Science and TechnologyAdresse e-mail validée de kaist.ac.kr
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Juyeop Kim
Integrated Circuits and Systems Lab (ICSL), KAIST
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