Obtenir mon propre profil
Citée par
Toutes | Depuis 2019 | |
---|---|---|
Citations | 6222 | 1018 |
indice h | 41 | 14 |
indice i10 | 138 | 29 |
Accès public
Tout afficher1 article
0 article
disponibles
non disponibles
Sur la base des exigences liées au financement
Coauteurs
- james drewniakMissouri University of Science and TechnologyAdresse e-mail validée de mst.edu
- SERGIU RADUORACLEAdresse e-mail validée de oracle.com
- Jun FanMissouri University of Science and TechnologyAdresse e-mail validée de mst.edu
- Etienne SicardProfessor, electronics & computer engineeringAdresse e-mail validée de insa-toulouse.fr
- David PommerenkeProfessor of Electrical Engineering, Graz University of TechnologyAdresse e-mail validée de ieee.org
- Byron VillacortaThe University of Queensland, AustraliaAdresse e-mail validée de g.clemson.edu
- Xiaoning YeIntel CorpAdresse e-mail validée de intel.com
- Xinbo HeApple IncAdresse e-mail validée de g.clemson.edu
- Amod OgaleClemson UniversityAdresse e-mail validée de clemson.edu
- Sonia Ben DhiaLAAS CNRSAdresse e-mail validée de insa-toulouse.fr
- Mohamed RamdaniEnseignant-Chercheur, ESEOAdresse e-mail validée de eseo.fr
- Antonio OrlandiProfessor of Signal Integrity, University of L'AquilaAdresse e-mail validée de univaq.it
- Francesca MaradeiSapienza UniversityAdresse e-mail validée de uniroma1.it
- Ji ChenDepartment of Electrical and Computer Engineering, University of HoustonAdresse e-mail validée de uh.edu
- Donald C Wunsch IIMissouri University of Science and TechnologyAdresse e-mail validée de mst.edu
- Dexin ZhangHitachi Automotive Systems Americas IncAdresse e-mail validée de hitachi-automotive.us
- Vijay KasturiStaff Engineer at Intel CorporationAdresse e-mail validée de intel.com
- Morten SørensenUniversity of Southern DenmarkAdresse e-mail validée de sdu.dk
- Min Cheol ParkSamsung Electro MechanicsAdresse e-mail validée de samsung.com
Suivre
Todd Hubing
Professor Emeritus, Clemson University
Adresse e-mail validée de clemson.edu - Page d'accueil