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Coauteurs
- Sergey NikishinProfessor of Electrical Engineering, Texas Tech UniversityAdresse e-mail validée de ttu.edu
- Jordan BergUS National Science FoundationAdresse e-mail validée de nsf.gov
- Ayrton BernussiProfessor of Electrical and Computer EngineeringAdresse e-mail validée de ttu.edu
- Zhaoyang FanProfessor of Electrical Engineering, Arizona State UniversityAdresse e-mail validée de asu.edu
- M.NazariVisiting Scholar, Texas State UniversityAdresse e-mail validée de txstate.edu
- Edwin PinerProfessor, Texas State UniversityAdresse e-mail validée de txstate.edu
- Sandeep Sohal, PhDSenior Reliability Engineer, Infinera CorporationAdresse e-mail validée de infinera.com
- Yong Zhao, Ph.D.View, Inc.Adresse e-mail validée de viewglass.com
- yanhan zhuIntel Corp.Adresse e-mail validée de intel.com
- shubhra gangopadhyayProfessor of Electrical EngineeringAdresse e-mail validée de missouri.edu
- D. H. S. MaithripalaUniversity of Peradeniya, Sri LankaAdresse e-mail validée de eng.pdn.ac.lk
- Stefan ZollnerNew Mexico State UniversityAdresse e-mail validée de nmsu.edu
- Iulian GherasoiuSUNY Polytechnic InstituteAdresse e-mail validée de sunyit.edu
- Gulten KARAOGLAN-BEBEKIntelAdresse e-mail validée de intel.com
- R ZallenProfessor of Physics, Virginia TechAdresse e-mail validée de vt.edu
- Luis Grave de PeraltaProfessor of Physics, Texas Tech UniversityAdresse e-mail validée de ttu.edu
- Xuan PanPhD of Electrical Engineering, Nano Tech Center, Texas Tech UniversityAdresse e-mail validée de ttu.edu
- Raju Ahmed, Ph. D.Sr R&D Engineer at Micron TechnologyAdresse e-mail validée de micron.com
- Dan FeketeProfessor of Physics, Physics Dept., TechnionAdresse e-mail validée de tx.technion.ac.il
- Anwar SiddiqueProduct Engineer, Intel CorpAdresse e-mail validée de intel.com