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Coauteurs
- Makoto NagataProfessor, Kobe UniversityAdresse e-mail validée de cs.kobe-u.ac.jp
- Takayasu SakuraiUniversity of TokyoAdresse e-mail validée de iis.u-tokyo.ac.jp
- Daisuke FujimotoNara Institute of Science and TechnologyAdresse e-mail validée de is.naist.jp
- Yu-ichi HAYASHINara Institute of Science and TechnologyAdresse e-mail validée de is.naist.jp
- Takuji MikiKobe UniversityAdresse e-mail validée de port.kobe-u.ac.jp
- Kazuo SakiyamaThe University of Electro-CommunicationsAdresse e-mail validée de uec.ac.jp
- Naofumi HommaTohoku UniversityAdresse e-mail validée de riec.tohoku.ac.jp
- Kohei MatsudaKobe UniversityAdresse e-mail validée de cs26.scitec.kobe-u.ac.jp
- Kiichi NiitsuKyoto UniversityAdresse e-mail validée de i.kyoto-u.ac.jp
- Jean-Luc DangerLTCI, Télécom Paris, Institut Polytechnique de ParisAdresse e-mail validée de enst.fr
- Shivam BhasinNTU SingaporeAdresse e-mail validée de ntu.edu.sg
- Hideharu AmanoKeio UniversityAdresse e-mail validée de am.ics.keio.ac.jp
- Hiroki MatsutaniDept of ICS, Keio UniversityAdresse e-mail validée de arc.ics.keio.ac.jp
- Yusmeeraz YusofUniversiti Teknologi MalaysiaAdresse e-mail validée de utm.my
- Takeshi SugawaraThe University of Electro-CommunicationsAdresse e-mail validée de uec.ac.jp
- Hayun ChungAssistant Professor of Electronics and Information Engineering, Korea UniversityAdresse e-mail validée de korea.ac.kr
- Jakub BreierSenior Cybersecurity Manager, TTControl GmbH, Vienna, AustriaAdresse e-mail validée de ttcontrol.com
- Zakaria NajmResearch Associate,NTU SingaporeAdresse e-mail validée de ntu.edu.sg
- Lan NanQualcomm Technologies Inc./ University of California, Los AngelesAdresse e-mail validée de ee.ucla.edu
- Won-Joo (Ryan) YunCorporate VP, Samsung ElectronicsAdresse e-mail validée de samsung.com