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Coauteurs
- Juan C. AgüeroUniversidad Tecnica Federico Santa Maria (Chile)Adresse e-mail validée de usm.cl
- Boris I. GodoyResearcher, Lund University, SwedenAdresse e-mail validée de control.lth.se
- Rafael OrellanaDoctor in Electronics Engineering, USACH, ChileAdresse e-mail validée de usach.cl
- Pedro EscárateEscuela de Ingeniería Eléctrica, Facultad de Ingeniería, PUCVAdresse e-mail validée de uach.cl
- Graham clifford goodwinProfessor university of newcastle AustraliaAdresse e-mail validée de newcastle.edu.au
- Maria CoronelResercher ANID-Pontificia Universidad Católica de ValparaísoAdresse e-mail validée de pucv.cl
- Juan I. YuzUniversidad Tecnica Federico Santa MariaAdresse e-mail validée de usm.cl
- Ramón A. Delgado PulgarEricsson ResearchAdresse e-mail validée de ericsson.com
- Cesar SilvaDepartamento de Electrónica, Universidad Técnica Federico Santa María, ChileAdresse e-mail validée de usm.cl
- Dimitrios KatselisUniversity of Illinois at Urbana-Champaign