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Coauteurs
- He WenBeijing University of Posts & TelecommunicationsAdresse e-mail validée de bupt.edu.cn
- Tom KaneSelf-employedAdresse e-mail validée de ieee.org
- Robert L. ByerProfessor Applied Physics, Stanford UniversityAdresse e-mail validée de stanford.edu
- Minghua ChenTsinghua UniversityAdresse e-mail validée de tsinghua.edu.cn
- Ruijie LuoUniversity College LondonAdresse e-mail validée de ucl.ac.uk
- Andrew M. WeinerProfessor of Electrical and Computer Engineering, Purdue UniversityAdresse e-mail validée de purdue.edu
- Chen HongweiProfessor of Electronic Engineering, Tsinghua UniversityAdresse e-mail validée de tsinghua.edu.cn
- Lin ChengCableLabsAdresse e-mail validée de gatech.edu
- Minghao QiPurdue UniversityAdresse e-mail validée de purdue.edu
- Zhizhen ZhongMassachusetts Institute of TechnologyAdresse e-mail validée de csail.mit.edu
- Xianbin YuZhejiang UniversityAdresse e-mail validée de zju.edu.cn
- Yitang DaiBeijing University of Posts and TelecommunicationsAdresse e-mail validée de bupt.edu.cn
- Xue FENG (冯 雪)Department of Electronic Engineering,Tsinghua University, ChinaAdresse e-mail validée de tsinghua.edu.cn
- Wei ZhangElectronic Engineering Department, Tsinghua UniversityAdresse e-mail validée de tsinghua.edu.cn
- Guifang LiCREOL, The University of Central FloridaAdresse e-mail validée de ucf.edu
- Philippe GreluUniversité de BourgogneAdresse e-mail validée de u-bourgogne.fr
- Long LiUniversity of Southern CaliforniaAdresse e-mail validée de usc.edu
- Ying ZhaoAcacia communication incAdresse e-mail validée de acacia-inc.com
- Jian-Ying ZhouJOHNS HOPKINS MEDICINEAdresse e-mail validée de jhmi.edu
- Xin ChenMerck & Co. Inc., Kenilworth, NJ, USAAdresse e-mail validée de merck.com