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Coauteurs
- Guanquan LiangUniversity of PittsburghAdresse e-mail validée de pitt.edu
- Katia BertoldiSEAS, Harvard UniversityAdresse e-mail validée de seas.harvard.edu
- Jongmin ShimUniversity at BuffaloAdresse e-mail validée de buffalo.edu
- Johannes T. B. OverveldeAssociate Professor, AMOLF & Eindhoven University of TechnologyAdresse e-mail validée de amolf.nl
- Elaine LeeLawrence Livermore National LaboratoryAdresse e-mail validée de llnl.gov
- Yigil ChoSamsung ElectronicsAdresse e-mail validée de samsung.com
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Jie Li
Materials Science and Engineering, University of Pennsylvania
Adresse e-mail validée de seas.upenn.edu