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Coauteurs
- Wangda ZuoProfessor, Pennsylvania State UniversityAdresse e-mail validée de psu.edu
- Wei TianSchneider ElectricAdresse e-mail validée de schneider-electric.com
- Yangyang FuPhD, Texas A&M UniversityAdresse e-mail validée de tamu.edu
- Luyi XuEindhoven University of TechnologyAdresse e-mail validée de tue.nl
- Michael D. SohnLawrence Berkeley National LaboratoryAdresse e-mail validée de lbl.gov
- Michael WetterLBNL, Berkeley, CAAdresse e-mail validée de lbl.gov
- Cary FaulknerPacific Northwest National LaboratoryAdresse e-mail validée de colorado.edu
- Mingang JinEmerson Automation SolutionsAdresse e-mail validée de Emerson.com
- Kyri BakerAssistant Professor and Lewis-Worcester Faculty Fellow, University of Colorado, BoulderAdresse e-mail validée de colorado.edu
- Bin YanHarvard UniversityAdresse e-mail validée de gsd.harvard.edu
- Yiqun PanProfessor, Tongji UniversityAdresse e-mail validée de tongji.edu.cn
- Peng Xu (许鹏)Tongji UniversityAdresse e-mail validée de tongji.edu.cn
- Hongtao QiaoMitsubishi Electric Research LaboratoriesAdresse e-mail validée de merl.com
- Saleh NabiAI Researcher, Schneider ElectricAdresse e-mail validée de se.com
- Christopher LaughmanSenior Principal Research Staff, Mitsubishi Electric Research LaboratoriesAdresse e-mail validée de merl.com
- Na LiWinokur Family Professor of Electrical Engineering and Applied Mathematics, HarvardAdresse e-mail validée de seas.harvard.edu
- Runyu (Cathy) Zhang 张润玉Graduate Student, Harvard UniversityAdresse e-mail validée de g.harvard.edu
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