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Coauteurs
- Luis Guillermo VillanuevaÉcole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL)Adresse e-mail validée de epfl.ch
- Giovanni BoeroEcole Polytechnique Federale de LausanneAdresse e-mail validée de epfl.ch
- Gyu Man KimKyungpook National UniversityAdresse e-mail validée de knu.ac.kr
- Beomjoon KimThe University of Tokyo, Institute of Industrial ScienceAdresse e-mail validée de iis.u-tokyo.ac.jp
- Victor J CadarsoMonash UniversityAdresse e-mail validée de monash.edu
- Valentin FlauraudEPFL LausanneAdresse e-mail validée de photovf.com
- Nico de RooijProfessor Emeritus, EPFLAdresse e-mail validée de epfl.ch
- Philippe RenaudEPFLAdresse e-mail validée de epfl.ch
- Vahid FakhfouriqmtAdresse e-mail validée de alumni.epfl.ch
- Harry HeinzelmannCSEMAdresse e-mail validée de csem.ch
- Xiao-Sheng ZhangProfessor, University of Electronic Science and Technology of China (UESTC)Adresse e-mail validée de uestc.edu.cn
- Raphaël PuginSection Head Nanoscale Technology CSEM SAAdresse e-mail validée de csem.ch
- Francesc Perez-MuranoIMB-CNM, CSICAdresse e-mail validée de csic.es
- Loïc Jacot DescombesAdvanced Consultant, AltranAdresse e-mail validée de altran.com
- Massimo MastrangeliAssociate Professor, Delft University of TechnologyAdresse e-mail validée de tudelft.nl
- Olivier J.F. MartinProfessor of Nanophotonics & Optical Signal Processing, EPFLAdresse e-mail validée de epfl.ch
- Shenqi XieEPFLAdresse e-mail validée de epfl.ch
- Julien ArcamoneASMAdresse e-mail validée de asm.com
- Andreu lloberaInstitut de Microelectrònica de Barcelona (IMB-CNM, CSIC)Adresse e-mail validée de imb-cnm.csic.es
- Gabriel D. BernasconiNanophotonics and Metrology Laboratory, Swiss Federal Institute of Technology LausanneAdresse e-mail validée de epfl.ch
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Juergen Brugger
Professor of Microengineering (EPFL)
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