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Coauteurs
- Muhammad Ashraful AlamJai N. Gupta Professor of Electrical Engineering, Purdue UniversityAdresse e-mail validée de purdue.edu
- Heng PanTexas A&M UniversityAdresse e-mail validée de tamu.edu
- Xian HuangProfessor, Tianjin UniversityAdresse e-mail validée de tju.edu.cn
- Xiaowei YuGeneral Motors R&D; Missouri University of Science and TechnologyAdresse e-mail validée de gm.com
- Wan ShouUniversity of Arkansas; MIT postdoc; MST Ph.D.Adresse e-mail validée de mit.edu
- Yen-Pu ChenPurdue UniversityAdresse e-mail validée de purdue.edu
- Dhanoop VargheseTexas InstrumentsAdresse e-mail validée de ti.com
- Dr. Amitabha NathPost-Doctoral Fellow, Indian Institute of Technology BombayAdresse e-mail validée de iitb.ac.in
- Woojin AhnIntel CorporationAdresse e-mail validée de intel.com
- Peide YeRichard J. and Mary Jo Schwartz Professor of Electrical and Computer Engineering, Purdue UniversityAdresse e-mail validée de purdue.edu
- SangHoon ShinPurdue UniversityAdresse e-mail validée de purdue.edu
- Hai JiangSamsung Electronics, Purdue University, Peking UniversityAdresse e-mail validée de samsung.com
- Nicolò ZagniPost-Doc Researcher, Università degli Studi di Modena e Reggio EmiliaAdresse e-mail validée de unimore.it
- Jinhyun NohTexas InstrumentsAdresse e-mail validée de ti.com
- shubhra gangopadhyayProfessor of Electrical EngineeringAdresse e-mail validée de missouri.edu
- Kalyan Kumar ChattopadhyayProfessor, Jadavpur UniversityAdresse e-mail validée de phys.jdvu.ac.in
- Debkalpa GoswamiCleveland Clinic; Case Western Reserve UniversityAdresse e-mail validée de ccf.org
- Vijay ReddyTexas InstrumentsAdresse e-mail validée de ti.com