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Coauteurs
- Heejung YuDept. of Electronics and Information Eng., Korea UniversityAdresse e-mail validée de korea.ac.kr
- Gilwon LeeSamsung Research America, Plano, TXAdresse e-mail validée de samsung.com
- Lang TongIrwin and Joan Professor in Engineering, Cornell UniversityAdresse e-mail validée de ece.cornell.edu
- Song NohIncheon National UniversityAdresse e-mail validée de inu.ac.kr
- Woojun KimCarnegie Mellon UniversityAdresse e-mail validée de andrew.cmu.edu
- HV PoorMichael Henry Strater University Professor, Princeton UniversityAdresse e-mail validée de princeton.edu
- Donggun KimSamsung ElectronicsAdresse e-mail validée de kaist.ac.kr
- Yong H. LeeDept. of Electrical Eng. KAISTAdresse e-mail validée de kaist.ac.kr
- Juho ParkETRIAdresse e-mail validée de etri.re.kr
- Seungyul HanAssistant Professor, Graduate School of AI, UNISTAdresse e-mail validée de unist.ac.kr
- Whiyoung JungAI Scientist, LG AI ResearchAdresse e-mail validée de lgresearch.ai
- Michael ZoltowskiProfessor, Electrical and Computer Engineering, Purdue UniversityAdresse e-mail validée de purdue.edu
- David J. LoveNick Trbovich Professor of ECE, Purdue UniversityAdresse e-mail validée de ecn.purdue.edu
- Myungsik choKAISTAdresse e-mail validée de kaist.ac.kr
- Dan Keun SungProfessor Emeritus, School of Electrical Engineering, Korea Adv. Inst. of Sci. & Tech(KAIST).Adresse e-mail validée de kaist.ac.kr
- Jo Woon ChongTexas Tech UniversityAdresse e-mail validée de ttu.edu
- Anthony EphremidesProfessor at University of Maryland, College Park, MDAdresse e-mail validée de ece.umd.edu
- Masahiro YukawaKeio UniversityAdresse e-mail validée de elec.keio.ac.jp
- Junse LeeUT Austin, Samsung Electronics, KAISTAdresse e-mail validée de utexas.edu
- Marios KountourisProfessor, EURECOM, FranceAdresse e-mail validée de eurecom.fr
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Youngchul Sung
Professor, Electrical Engineering, KAIST
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